美国博曼（Bowman）BA-100系列 X射线荧光镀层测厚仪 P系列

适用于PCB、FPC、LED、SMT、连接器、端子、五金产品、汽车零部件、卫浴洁具、珠宝等行业的镀层厚度测量、材料分析，可测元素广泛，Ti22—U92 ，成份分析多可达25种元素 ，多可测4层镀层+基材层的镀层厚度

仪器型号：BA-100-P-MVE

采用预热时间短，长寿命的50W（50KV 1.0mA）微聚焦的W靶X射线管，开机5分钟内即可测量 ，X射线由上往下

高分辨半导体固态探测器（Si-Pin），提高稳定性和灵敏度，有效区分相邻元素的谱峰

4种规格：0、0.1、0.5、1mm一次滤波器可自由切换

配置多准直器系统

准直器有园形和方形，有着多种规格，标准规格：Φ0.1、Φ0.2、Φ0.3、Φ0.6mm等

光学放大30X、数字放大1--5X的高清CCD系统

拥有6.3--12.5--25.5--38mm的变焦系统，便于异形产品的测量

仅需一根USB线与电脑连接，增强信号的稳定性，有效减少故障率

紧凑式设计，改善效率和精度

模块化设计，方便维修、维护

占用空间小、轻量化设计

样品台开槽式设计适用于大型扁平产品（如：PCB）的测量

样品台程控式移动，XY轴可编程运行

X、Y轴移动行程：254×254mm

Z轴程控移动，行程132mm，镭射辅助红点聚焦系统能有效避免人为测量误差

基于Net framework框架的Xralizer软件

可采用基本参数法或经验系数法建立镀层测厚和元素分析档案程序

设置直观的图标引导用户界面

拥有快捷的面板操作按钮

设置功能强大的标准片库

强大的报告编辑生成器

拥有灵活的数据显示、数据和图像可以多种格式导出，每个测量点图片均可显示在测量报告中

工作台内部尺寸（宽×深×高）：310×380×140mm

仪器外形尺寸（宽×深×高）：560×600×280mm

重量：70Kg