博曼X射线膜厚测试仪主要用于线路板测厚，于核心控制软件的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。采用全新数学计算方法,采用FP(Fundamental Parameter)、DCM(Distenco ControlledMeasurement)及强大的电脑功能来进行镀层厚度的计算,在加强的软件功能之下,简化了测量比较复杂镀层的程序,甚至可以在不需要标准片之下,一样测量。

只需轻轻按一下激光对焦按钮,就可自动进行对焦。对于测量有高低差的样品时,配置了为防止样品和仪器冲撞的自动停止功能。

博曼X射线膜厚测试仪,可对应于含无铅焊锡在内的合金电镀或多层电镀的测量,应用范围广泛。

利用Microsoft的Office操作系统可将检测报告工作之便简单快速地打印出来。