深圳市超利电子科技有限公司

主营:频谱分析仪,网络分析仪,信号源

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网络分析仪安捷伦8753ET,8753ES

2024-05-23 05:39:02  77次浏览 次浏览
价 格:面议

网络分析仪安捷伦8753ET 8753ES Agilent 8753ET 8753ES

Agilent安捷伦8753ET射频矢量网络分析仪

Agilent安捷伦8753ET射频矢量网络分析仪

为了测量混频器,调谐器和其它频率转换器件,频率偏置工作方式允许对网络分析仪独立于机调谐。

分析仪很容易以固定中频或扫描中频测试方式完成变频损耗、相位和混频器统调的测量1。

功率计校准向对输入或输出电平敏感的器件提供稳幅的功率。

8753ET/ES自动对436A,437B,438A E4418B或E4419B功率计进行控制,

使在测试系统中任何处的功率都可调到具有功率计的精度,或将网络分析仪校准来进行的功率测量。

另一些高生产率特点包括支持LIF、DOS JPEG和逗点隔开的变量(CSV)格式的内置软盘驱动器,

非易失存储器、串行和并行接口,DIN键盘接口以及对打印输出和文件提供时间记录的实时时钟。

还包括测试、任意频率测试和标记功能。

通过利用列表扫描工作方式来选择待测试的特殊频率以及在每个频率范围设置独立的中频带宽和功率电平,

可以缩短测量时间。分段校准和内插误差修正能提高分析仪已校频率范围的某一区段上的矢量精度。

8753ET/ES与8753D/E为代码兼容,因而无需修改现有软件。

利用选件010,能观察在时域中的反射或传输响应。该分析仪对频域数据的快速傅氏逆变换进行计算

,以显示反射系数变化的关系。两种时域分析方式能观察器件的阶跃响应或冲击响应。

定时选通可用来除去一些不希望的响应,如接头失配,选通结果则可在时域或频率中显,

Agilent 8753ES 矢量网络分析仪可以对射频组件进行完整的表征。它包括一个集成的合成源、测试装置和调谐接收器。

内置的 S 参数测试仪可提供全范围的正向和反向幅度和相位测量。内置矢量精度增强技术包括全双端口校准、适配器移除和 TRL/LRM 校准

E5071A Agilent9K-3G网络分析仪

E5071B 9K-4.5G/8.5G/20G网络分析仪

E5072A 30KHZ-4.5G/8.5G 2端口网络分析仪,130 dB/151 dB 宽动态范围

E5071C 9K-8.5G

E5052A

E5061A 300K-1.5G网络分析仪

E5061B ENA 矢量网络分析仪,5 Hz 至 3 GHz,50/75 Ω,2 端口,配有阻抗分析选件。

E5063A ENA 矢量网络分析仪,100 kHz 至 18 GHz,2 端口,适用于无源器件测试,可选配 PCB 测试选件。

E5062A ENA-L 射频网络分析仪,300 kHz 至 3 GHz

8722ES S-参数矢量网络分析仪, 50 MHz至40 GHz, 50 MHz至40 GHz

8722D 50M-40G 微波矢量网络分析仪

8720ES 50M-20G微波矢量网络分析仪

8720D 50M-20G微波矢量网络分析仪

8720E 50M-20G微波矢量网络分析仪

8720B 130M-20G微波矢量网络分析仪

8720C 130M-20G微波矢量网络分析仪

753ET,安捷伦8753ET网络分析仪的详细资料8753ET,安捷伦8753ET网络分析仪

Agilent 8753ET | HP8753ET | HP-8753ET 3G/6GHz射频矢量网络分析仪安捷伦30kHz-3G/6GHz

产品品牌: 安捷伦 | Agilent | 惠普 | HP

产品型号: HP8753ET

ET型

8753ET的特点是有一个能提供各种各样幅度和相位测量的内置50Ω传输/反射(T/R)测试装置。频率覆盖范围从300KHz到3或6GHz。T/R功能在对被测量器件进行测量时能给出很高的精度且极为方便。新增加的响应校准能对传输测量中的源匹配影响进行修正。选件004将标准件的-20~+5dBm源功率范围扩大到-85~+10dBm。

ES型

8753ES的特点是有一个能提供各种各样幅度和相位测量的内置50或75ΩS参数测试装置。全二端口误差修正功能提供的精度水准,S参数测试装置则便于进行正、反向扫频测量,而无需倒置被测件。为了提高配置的灵活性,选件011取消了内置测试装置,以便能选择自己所需的测试装置。8753ES选件011可与85046A/B和85047A S参数测试装置以及供其它特殊应用的专用测试装置配套使用。选件014为获得灵活性提供了可配置的测试装置。为了在非同轴系统中进行方便而的测量,特提供了TR*/LRM*校准。利用内置适配置器移去校准技术,还能实现对非插入式器件的高精度测量。

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